基于调制度的光学三维测量的研究 (2008年)

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文件名称：基于调制度的光学三维测量的研究 (2008年)

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更新时间：2024-05-18 06:07:09

工程技术 论文

为了能够测量复杂的面形物体,在基于调制度的光学三维测量研究中,提出利用改变光栅投影系统的物距,实现光栅图像对物体的纵向扫描,从而获取所测物体表面各点调制度的极大值,恢复物体的高度信息。运用此方法便于实现三维测量仪器的小型化,减少误差,可避免在相位测量中需要去包裹的问题。