基于阶次双谱的齿轮箱升降速过程故障诊断研究 (2006年)

时间:2021-04-21 18:21:19
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文件名称:基于阶次双谱的齿轮箱升降速过程故障诊断研究 (2006年)
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更新时间:2021-04-21 18:21:19
工程技术 论文 针对齿轮箱升降速过程中振动信号非平稳的特点,将常规的阶次分析与双谱分析技术相结合,提出了基于阶次双谱的齿轮箱故障诊断方法。首先对齿轮箱升降速瞬态信号进行时域采样,再对时域信号进行等角度重采样,转化为角域平稳信号,最后对角域重采样信号进行双谱分析,就可提取轴承的故障特征。通过对轴承内圈故障实验信号的分析表明,该方法能有效地识别轴承的故障。

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