相界面的Moire条纹研究* (2005年)

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文件名称：相界面的Moire条纹研究* (2005年)

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更新时间：2024-07-01 05:36:35

自然科学 论文

运用高分辨透射电子显微镜对取向关系分别为45°[100]和66°[011]Mgo/Cu界面结构进行了研究，界面附近由于MgO与Cu相互重叠而出现Moite条纹，两种不同取向关系所对应的Moire条纹分别为平行和旋转条纹，对两种Moire条纹的取向及间距进行了分析，理论分析与实验结果符合得很好。