文件名称：获取平面光学元件面形偏差的方法研究 (2010年)
文件大小：245KB
文件格式：PDF
更新时间：2024-06-12 09:59:26
自然科学 论文
提出一种利用BP神经网络获取平面光学元件面形偏差的方法。该方法先确定一幅干涉条纹图像测试区域中条纹 弯曲量和条纹间距,然后对BP神经网络进行训练,最后获取被测平面光学元件的光圈数。通过与Zygo激光干涉仪的测量结果 进行比较,发现两者的测量结果相吻合。实验结果表明,该方法不仅可以增强处理干涉条纹图像的适应性,而且可以提高测 量精度。