【文件属性】：
文件名称：半导体存储器测试概论
文件大小：1.03MB
文件格式：PDF
更新时间：2021-07-07 04:35:12
半导体存储器测试
半导体存储器测试概论，主要内容包含：
1.存储器测试流程
2. Wafer Sort 流程
3. Assembly 流程
4. Fianl test流程
5. Test item简介
6. Continue test
7. input leakage test
8. out put leakage test
等等，详见文档。