半导体存储器测试概论

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文件名称：半导体存储器测试概论

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更新时间：2024-07-26 22:21:52

半导体存储器测试

半导体存储器测试概论，主要内容包含： 1.存储器测试流程 2. Wafer Sort 流程 3. Assembly 流程 4. Fianl test流程 5. Test item简介 6. Continue test 7. input leakage test 8. out put leakage test 等等，详见文档。