半导体测试概论.pdf

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文件名称：半导体测试概论.pdf
文件大小：2.55MB
文件格式：PDF
更新时间：2023-01-13 12:21:52
集成电路测试 DFT ATPG BIST CMOS 超大规模集成电路可测试性设计，内容包含ATPG、BIST、JTAG等，包含功能测试、直流测试、交流测试及Open/Short、闩锁效应等内容。