激光成像仪器中的行、场扫描同步控制 (2006年)

时间:2024-06-18 12:36:17
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文件名称:激光成像仪器中的行、场扫描同步控制 (2006年)

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更新时间:2024-06-18 12:36:17

工程技术 论文

为了提高光点的位置精度,从而提高成像质量,提出了一种基于 P WM控制的双光栅反馈的控制方案。基于数字 PID原理,利用微处理器和 H桥组件 LMD18200 ,构建了全数字化的双芯片同步系统,实现了水平光学扫描和由直流力矩电机驱动的垂直扫描的同步控制。该系统结构简单,控制参数完全由软件设定,调整方便。自检方格测试结果证明,相对于开环步进电机驱动方法,同步控制精度从±50μm提高到±20μm。


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