Sol-Gel法制备PI／SiO2纳米复合薄膜及结构与性能 (2005年)

【文件属性】：
文件名称：Sol-Gel法制备PI／SiO2纳米复合薄膜及结构与性能 (2005年)
文件大小：199KB
文件格式：PDF
更新时间：2021-05-16 10:33:02
工程技术 论文 采用溶胶-凝胶法(Sol-Gel)制备了二氧化硅不同质量分数的聚酰亚胺／二氧化硅(PI／SiO2)纳米复合薄膜。并用TEM、力学性能、吸水性能及介电性能测试等方法研究了薄膜的结构与性能。结果表明，SiO2微粒均匀分散在PI基体中，粒径随着SiO2含量的增加而增大；当SiO2质量分数在20％以内时对Pl基体有增强作用，且在10％左右拉伸强度达到最大，而吸水率逐渐减小，介电常数则变化不大。