第二届全国EDA大赛试题

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文件名称：第二届全国EDA大赛试题
文件大小：350KB
文件格式：RAR
更新时间：2013-05-05 17:49:13
第二届全国EDA大赛试题 第二届全国EDA大赛试题 第二届笔试题 1．（4分）请简要说明CIF，EDIF，GDSⅡ的意义及用途。 2．（4分）在亚微米设计中，互连线的影响是十分重要的，互连线会给晶体管增加负载，是由于＿＿＿＿＿＿、＿＿＿＿＿、＿＿＿＿＿、＿＿＿＿＿造成。从而导致信号＿＿＿＿＿、功率＿＿＿＿＿、电压＿＿＿＿＿、时间＿＿＿＿＿。 3．（4分）在亚微米设计中，电子迁移是由＿＿＿＿＿造成的。它使连线变细，最终断开，引起器件失效。

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