文件名称：论文研究-双阈值VLSI低测试功耗方法研究.pdf
文件大小：616KB
文件格式：PDF
更新时间：2022-08-11 16:37:49
测试功耗,电压调节,漏电流优化,测试向量
提出一种测试功耗优化的新方法，它通过阈值门电路调节和漏电流优化两种方法相结合来降低静态功耗。通过算法寻找电路的关键路径，去除伪路径，然后在关键电路上设置低阈值门电路，在非关键电路上设置高阈值门电路（不违反时序约束的前提下），利用测试向量的无关位特性来调整测试向量和测试架构，达到降低漏电流的目的。通过以上两种途径，整体上达到功耗优化的结果，实验结果证实了本方法的有效性。