论文研究-一种高性能低功耗全扫描电路测试方法 .pdf

时间:2022-09-05 06:46:17
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更新时间:2022-09-05 06:46:17

扫描测试

一种高性能低功耗全扫描电路测试方法,吴勇,尤志强,扫描测试方法在降低测试复杂性的同时,也带来了功耗上升等问题。本文提出一种高性能低功耗全扫描电路测试方法,首先识别全扫描电


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