论文研究-一种基于扫描链重排序的低功耗测试方法 .pdf

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文件名称：论文研究-一种基于扫描链重排序的低功耗测试方法 .pdf

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更新时间：2022-09-03 09:58:24

扫描测试

一种基于扫描链重排序的低功耗测试方法，周晟，尤志强，随着集成电路规模越来越大，数字电路的功耗已经成为电路设计者考虑的主要问题。本文提出一种基于扫描链重排序的低功耗测试方法，