文件名称：加速寿命试验理论依据
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更新时间：2015-05-25 13:39:10
加速 寿命 试验 理论
电子元器件的失效原因与器件本身所选用的材料、材料之间、器件表面或体内、 金属化系统以及封装结构中存在的各种化学、物理的反应有关。器件从出厂经过 贮 存、运输、使用到失效的寿命周期，无时无刻不在进行着缓慢的化学物理变 化。在各种外界环境下，器件还会承受了各种热、电、机械应力，会使原来的化 学物理反 应加速，而其中温度应力对失效最为敏感。实践证明，当温度升高以 后，器件劣化的物理化学反应加快，失效过程加速，而 Arrhenius 模型就总结了 由温度 应力决定的化学反应速度依赖关系的规律性，为加速寿命试验提供了理 论依据。