ARM JTAG 调试原理

【文件属性】：

文件名称：ARM JTAG 调试原理

文件大小：442KB

文件格式：RAR

更新时间：2012-04-16 10:34:41

ARM JTAG

这篇文章主要介绍 ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了 TAP (TEST ACCESS PORT) 和 BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE 的介绍，在此基础上，结合 ARM7TDMI 详细 介绍了的 JTAG 调试原理。 这篇文章主要是总结了前段时间的一些心得体会，希望对想了解 ARM JTAG 调试的网友们 有所帮助。我个人对 ARM JTAG 的理解还不是很透彻，在文章中，难免会有偏失和不准确的地 方，希望精通 JTAG 调试原理的大侠们不要拍砖，有什么问题提出来，我一定尽力纠正。同时 也欢迎对 ARM JTAG 调试感兴趣的朋友们一起交流学习。

【文件预览】：
ARM JTAG 调试原理.pdf