文件名称：芯片测试-清华大学讲义
文件大小：1.21MB
文件格式：RAR
更新时间：2024-07-26 22:21:25
芯片测试
清华大学芯片测试讲义，主要内容包括： 1.可测试性测试和设计的基础知识 2.组合测试生成 3.故障模拟 4.顺序测试生成 5.内存测试 6.可测性测量 7.可测试性设计 8.边界扫描 9.内置自检 10. IDDQ测试
【文件预览】：
清华大学芯片测试讲义
----SequentialTG.rar(54KB)
----MemoryTest.rar(37KB)
----dft.rar(475KB)
----Fundamentals.rar(181KB)
----FaultSim.rar(52KB)
----BoundaryScan.rar(76KB)
----BIST.rar(96KB)
----tm.rar(68KB)
----IDDQ.rar(134KB)
----CombinationalTG.rar(70KB)