文件名称：清华大学芯片测试讲义(英文PPT)
文件大小：1.22MB
文件格式：RAR
更新时间：2014-02-14 06:28:47
芯片测试 测试讲义
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清华大学芯片测试讲义
----tm.ppt(235KB)
----IDDQ.ppt(985KB)
----SequentialTG.ppt(157KB)
----Fundamentals.ppt(845KB)
----FaultSim.ppt(397KB)
----BoundaryScan.ppt(559KB)
----BIST.ppt(678KB)
----dft.ppt(731KB)
----MemoryTest.ppt(142KB)
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