文件名称:论文研究-质子辐照GaN的正电子寿命研究 .pdf
文件大小:674KB
文件格式:PDF
更新时间:2022-09-05 08:45:51
微电子学与固体电子学
质子辐照GaN的正电子寿命研究,张明兰,,质子辐照诱生缺陷是在外太空等恶劣环境中引起GaN基器件性能退化的主要因素,研究质子辐照诱生缺陷的行为特征,对提高GaN基器件的抗
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微电子学与固体电子学
质子辐照GaN的正电子寿命研究,张明兰,,质子辐照诱生缺陷是在外太空等恶劣环境中引起GaN基器件性能退化的主要因素,研究质子辐照诱生缺陷的行为特征,对提高GaN基器件的抗