数字电子技术实验.doc 时间:2020-09-15 22:48:49 【文件属性】: 文件名称:数字电子技术实验.doc 文件大小:6.4MB 文件格式:DOC 更新时间:2020-09-15 22:48:49 TTL集成逻辑门 本实验采用四输入双与非门74LS20,即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门,每个与非门有四个输入端。掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法 立即下载