文件名称：普通型与矮生型梨叶片显微结构比较 (2010年)
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更新时间：2024-07-04 16:20:11
自然科学 论文
应用扫描电镜和石蜡切片方法，对普通型和矮生型梨叶片的显微结构进行比较分析。结果表明：普通型和矮生型梨的叶片上表皮均有大量蜡质分布，气孔均分布在叶片下表皮，而矮生型蜡质层更厚。普通型和矮生型梨气孔器平均长轴×短轴分别为25.42μm×19.39μm和29.52μm×16.85μm，气孔平均长×宽分别为17.73μm×5.37μm和20.59μm×4.07μm；普通型和矮生型梨的叶片厚度平均值分别为196.35和227.99μm，栅栏组织厚度平均值分别为54.93和79.13μm，栅栏组织/海绵组厚度比平均分