文件名称：Bi2O3对Fe2O3掺杂ZnO的影响
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更新时间：2024-07-19 11:38:27
学术 论文
Bi2O3 对 Fe2O3 掺杂的 ZnO 的影响海报 Bi2O3 对 Fe2O3 掺杂的 ZnO 的影响 Elisabeth Pesch、Frank Wolf、Werner Mader * 波恩大学无机化学研究所，Römerstr。 164, D-53117 波恩 关键词：氧化锌； 压敏电阻； 电子显微镜 在 ZnO-Fe2O3 系统中，可以观察到由平面缺陷界定的反转域 [1,2] 的广泛微观结构。 低 Fe2O3 掺杂会出现两种类型的缺陷：1. 平行于 ZnO 的 (0001) 面的基础缺陷和 2. 平行于 ZnO 的 {21̄1̄5} 面的金字塔形缺陷。 缺陷的形成是由铁化学诱导的。 在较高的添加剂浓度下，ZnFe2O4 尖晶石从反转域微观结构本质上形成，导致层状微观结构 [3]。 常见的基于 ZnO 的压敏电阻材料包含 Bi2O3 添加剂，其形成电活性晶界相。 在这项研究中，研究了 Bi2O3 对模型系统 ZnO-Fe2O3 的影响。 使用透射电子显微镜 (TEM) 表征缺陷和反转域。 使用扫描电子显微镜 (SEM) 方法研究 Bi2O3 对晶粒生长的影响，同时使用粉末 X