论文研究-功率DMOS的UIS失效机理及改善 .pdf

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文件名称：论文研究-功率DMOS的UIS失效机理及改善 .pdf

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更新时间：2022-09-05 04:48:42

微电子与固体电子学

功率DMOS的UIS失效机理及改善，任敏，郭绪阳，功率DMOS器件是目前应用最为广泛的新型功率器件。UIS过程是功率DMOS在系统应用中所能遭遇的最极端电热应力情况，因此抗UIS失效能力是�