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文件名称：论文研究-基于Pcap01芯片的高精度微电容检测电路设计与检验 .pdf
文件大小：675KB
文件格式：PDF
更新时间：2022-09-08 12:04:11
Pcap01; STM32;微弱电容检测
基于Pcap01芯片的高精度微电容检测电路设计与检验，陈张浩，唐磊，提出一种基于Pcap01的微电容测量电路设计,可对0-3.5nF之间的微小电容进行高精度测量。该设计基于TDC(时间数字转换原理), 系统硬件主要由