文件名称：论文研究-A Novel Aging Sensor with Function Reuse for Circuit Failure Prediction.pdf
文件大小：392KB
文件格式：PDF
更新时间：2022-09-03 10:55:48
Aging sensor
一种新型的基于功能复用的老化预测传感器设计，史冬霞，梁*，随着晶体管特征尺寸进一步减小，晶体管老化效应已成为影响集成电路可靠性的重要因素。由于晶体管的老化，电路时延逐渐增加，最终
论文研究-A Novel Aging Sensor with Function Reuse for Circuit Failure Prediction.pdf
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