文件名称：超材料matlab代码-metaMaterial-System:元材料系统
文件大小：3.51MB
文件格式：ZIP
更新时间：2024-06-14 01:50:39
系统开源
超材料数学元材料系统 实验系统用于测量超材料的透射和反射系数（S参数）。 该系统包括用于测量的Keysight网络分析仪。 由arduino单元控制的modifield CNC机床用于移动超材料，以便沿轴进行测量。 该存储库详细介绍了系统的编程方面。 入门部分将走入低谷，对系统进行首次测量。 “关于系统”部分将指定添加更多功能或调试系统所需的更多详细信息。 入门 您可以通过单击文件窗口右上角的“代码”，然后单击“下载Zip”来下载整个存储库。 测量S参数 使用网络分析仪GUI 首先连接您的电路板以进行S参数测量。 像这样：我们将通过执行S11参数的测量，使用网络分析仪GUI测试系统。 通过使用程序“ Network Analyser”，您可以执行简单的测量。 为了执行测量： 启动程序“网络分析器” 将会弹出一个窗口，选择仪器并按“运行” 点击“电源”->“射频电源”->“打开” 您可以使用“扫描”更改采样点的数量。 您可以使用“频率”更改频率范围 选择“迹线”，然后按“迹线1”以添加新的迹线。 使用“ Meas”选择S11参数 现在，您应该可以看到您的数据了。 请注意，单击“预设”也将
【文件预览】：
metaMaterial-System-main
----PCB design()
--------desktop.ini(136B)
--------CRLH-v1.2.sch(28KB)
--------CLRH-ver1.2.zip(45KB)
--------CRLH-v1.2.brd(80KB)
--------README.md(426B)
----measureSparams()
--------desktop.ini(136B)
--------measure_Sparams.m(2KB)
----instructionPics()
--------na_gui_6_m.png(110KB)
--------ce_4.png(153KB)
--------na_gui_2.png(99KB)
--------na_gui_7.png(98KB)
--------arduino_1.png(53KB)
--------ce_3_m.png(113KB)
--------na_gui_4.png(97KB)
--------na_gui_7_m.png(107KB)
--------desktop.ini(136B)
--------na_gui_8.png(102KB)
--------x_field_system_3.jpg(384KB)
--------na_gui_5.png(100KB)
--------na_gui_3.png(104KB)
--------na_gui_8_m.png(110KB)
--------na_gui_3_m.png(110KB)
--------arduino_1_m.png(55KB)
--------s_params_system_1.jpg(1.05MB)
--------na_gui_6.png(98KB)
--------na_gui_4_m.png(106KB)
--------ce_1.png(54KB)
--------ce_1_m.png(59KB)
--------gcode_sender_1.png(76KB)
--------ce_2.png(37KB)
--------ce_3.png(107KB)
--------ce_5.png(154KB)
--------ce_4_m.png(156KB)
--------na_gui_1.png(20KB)
----grblUpload()
--------desktop.ini(136B)
--------grblUpload.ino(1KB)
----README.md(12KB)
----.gitignore(2KB)
----measureField()
--------measure_x_field.m(2KB)
--------doMeasurment.m(944B)
--------desktop.ini(136B)
--------doGCodeCommand.m(233B)