文件名称：SRAM型FPGA抗多位翻转布线算法 (2013年)
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更新时间：2024-05-17 20:09:37
工程技术 论文
电路元器件尺寸的小型化使得现场可编门阵列（field programmable gate array,FPGA）的配置存储器更易出现单粒子效应而造成多位翻转错误。在空间电子系统中经常使用三模冗余（TMR）技术来对单粒子翻转进行防护，但是对于MCUs(单粒子撞击造成的多位翻转)TMR无法防护。该文提出一种提高TMR电路可靠性的布线算法，用于对抗MCUs。算法考虑到FPGA配置存储单元的设计信息，同时也考虑了用于记录逻辑资源位置和连接资源位置的逻辑簇信息。通过实验对MCU进行静态分析，将提出的算法用于标准电路