文件名称：SRAM型FPGA单粒子效应逐位翻转故障注入方法 (2012年)
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文件格式：PDF
更新时间：2024-06-07 16:33:25
自然科学 论文
针对SRAM（Static Random Access Memory）型FPGA（Field Programmable Gate Array）空间应用的可靠性评测问题，提出一种逐位翻转的故障注入试验方法，利用动态重配置技术，通过检测逻辑电路设计配置存储单元中的单粒子翻转敏感位数量和位置，可计算出动态翻转截面和失效率，绘出可靠度变化曲线，分别对采用TMR（Triple Modular Redundancy）防护设计的和未采用TMR防护设计的SRAM型FPGA乘法器模块进行了故障注入试验，验证了得到的敏感位位