问题1(HAL库stm32cubemx):
使用ADC / DMA 循环自动采样的方式,但是采样数据与实际数据相差比较大,小了很多。
配置adc的时候,采样周期需要设置大一些。
sConfig.SamplingTime = ADC_SAMPLETIME_71CYCLES_5 ;
采样周期太小,会导致采样不准确,采样周期越大越准确。
采样周期太大会影响采样时间,计算公式:
采样时间(us) = (12.5+SamplingTime ) / ADC时钟(MHZ)
问题2:
仿真调试时,采样准确,但是设备重新上电后,采样不准确,偏小。
上电后延时一会,再运行校准ADC的操作 :
HAL_Delay();
HAL_ADCEx_Calibration_Start(&hadc1);
电路板刚上电时,电容太大的原因,电压还没上升到3.3V,但是程序已经在运行了,这时执行校准会导致ADC不准确。