24V低压检测电路 - 低压检测电压(转) ADC采样工作原理详解

时间:2024-03-11 15:41:32

24V低压检测电路 - 低压检测电压

 

参考:

 

使用单片机的ADC采集电阻的分压

 

问题:

当ADC采集两个电阻分压后的电压的时候,ADC转换出来的电压值和万用表量出来的不一样差异还挺大,但只要在采集点和GND之间跨接一个小电容(比如0.1uf)就解决问题了。这是啥原理?

N1:

分压电阻的输出阻抗太高;
ADC的采样时间太短。

N2:

MCU的ADC,输入首先是一个采样电路,等效一个电子开关、串联电阻、采样保持的负载电容。
在采样时间内,外部信号源,信号源内阻,采样电阻内阻,对采样电容充电。
要采样准确,需要采样时间足够,内阻R和C的时间常数足够小。
要么加大采样时间,要么减少内阻。
如果在信号源(分压电阻处)上并联电容,相当于减少了信号源的内阻。

N3:

分压后电压,最高不能超过参考电压,最好又靠近参考电压,比如70-90%,以提高精度。一般MCU的ADC输入要求信号源内阻小于10K,降低信号源的内阻。对于功耗有要求的,比如分压电阻几百K到1M的,必须要要加电容,降低ADC误差。

N4:

并非加电容就是“滤波”,此处电容的作用主要是:让ADC在采样时可以由外部电容提供足够的电荷“瞬间”转移到内部的采样电容上。
若“滤波”,通常是为了防止混叠。