UES应用.pdf

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文件名称：UES应用.pdf

文件大小：28.22MB

文件格式：PDF

更新时间：2022-09-12 09:07:31

全自动连续抛磨 三维微结构分析 微结构分析测试 3D抛磨

本文介绍了UES全自动三维微结构分析测试系统在不同领域的应用，其操作简单，完全通过电脑控制抛磨，边抛边成像，实时观察每层的形貌，UES还可与SEM扫描电镜联用，3D成像效果更好，直观反映您所要测的样品3D形貌，使您的研究跟精确，结果跟准确。