Tm

时间:2024-03-01 13:23:44
【文件属性】:

文件名称:Tm

文件大小:1.5MB

文件格式:PDF

更新时间:2024-03-01 13:23:44

材料 晶相 荧光光谱 温度特性 Tm3+离子

研究了不同环境温度下晶体LaOF和非晶体SiO2纳米体系中掺杂Tm3+ 离子的荧光光谱。结果表明,在20~300 K的温度范围内,荧光谱线的宽度、强度以及谱线位置均随温度的升高而变化。发光离子的局域环境直接影响荧光光谱对环境温度的依赖程度:SiO2中发光离子的荧光寿命受温度影响较小,而位于晶相环境LaOF中离子的荧光寿命则显示较强的温度依赖特性,在脉冲激光激发条件下,研究了3H4能级荧光寿命随温度变化的规律。


网友评论