单片机C语言实例非门数字芯片测试.rar

时间:2022-10-23 18:21:52
【文件属性】:
文件名称:单片机C语言实例非门数字芯片测试.rar
文件大小:8KB
文件格式:RAR
更新时间:2022-10-23 18:21:52
单片机 内容:通过电闪烁P1口状态,观测非门工作状态 主要测试非门功能和检验芯片是否正常工作
【文件预览】:
137-单片机C语言实例非门数字芯片测试
----非门数字芯片测试.Opt(1KB)
----obj()
--------非门数字芯片测试.obj(2KB)
--------非门数字芯片测试.hex(218B)
--------非门数字芯片测试(2KB)
--------非门数字芯片测试.lst(3KB)
--------非门数字芯片测试.m51(4KB)
--------非门数字芯片测试.plg(242B)
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----非门数字芯片测试.plg(187B)

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