文件名称：单片机C语言实例非门数字芯片测试.rar
文件大小：8KB
文件格式：RAR
更新时间：2022-10-23 18:21:52
单片机
内容：通过电闪烁P1口状态，观测非门工作状态 主要测试非门功能和检验芯片是否正常工作
【文件预览】：
137-单片机C语言实例非门数字芯片测试
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