文件名称：高速内插/平均ADC的定量分析
文件大小：178KB
文件格式：PDF
更新时间：2024-04-08 01:28:40
ADC; Interpolation/Averaging; Quantitative Analysis
内插闪存ADC已在高速系统中广泛实现。但是，实际设计确实具有挑战性，并且经验丰富且以反复试验为导向。本文对电阻插值/平均技术进行了定量分析，并给出了关于这两种技术如何影响系统性能（例如带宽和分辨率）的数学方程式。它还在数学上显示了当应用多个插值级时，由电阻器不匹配引起的系统失调电压和变化。该分析可用于权衡考虑，从而优化ADC设计。该分析由SMIC 130nm CMOS技术下的仿真支持。