文件名称：回溯法在多孔材料孔径测量中的应用 (2010年)
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更新时间：2024-06-15 00:54:41
工程技术 论文
为了研究多孔材料的微观特性,必须对其微观结构进行测量。首先分析并指出了迭代法、递归法在多孔材料微结构孔洞标记中的不足之处,然后结合回溯法的思想采用一种新的多孔材料孔洞标记法,并利用迷宫问题具体分析了标记的过程。最后用VC＋＋编程实现了淀粉扫描电子显微镜(scanningelectronmicro-scope,SEM)图像和陶瓷SEM图像的孔径测量(包括孔洞标记、孔径面积)。实验结果表明,该方法改善了前两种算法的不足,实际运行效果良好,具有较好的实用价值。