实测结果-基于自准直仪的测角传感器实时在位校准方法

时间:2021-06-02 16:57:00
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文件名称:实测结果-基于自准直仪的测角传感器实时在位校准方法
文件大小:262KB
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更新时间:2021-06-02 16:57:00
fpga nand flash (1)测试向量自动产生 测试向量自动产生分为 2个部分:1)由程序员编写标准 密码算法的测试程序;然后,由随机数发生器生成伪随机的 二进制序列,经序列分割器生成与特定算法相应的明文分组 文件(程序数据);2)按照覆盖要求,开发了测试程序自动产生 模块,按测试要求产生操作码、操作数(寄存器)及测试数据。 与传统的验证方式相比,本系统具有如下优点:1)噪声 源可以保证输入数据的随机性,并且,由于将生成的数据存 入了一个文件中不占用任何硬件资源,因此可以满足验证所 需的数据量。2)为了提高指令功能验证的覆盖率 ,在用大量 数据充分验证 AES,DES,IDEA,Safer+,Twofish,SHA等常用 算法的基础上,根据有限的指令组合方式,编写了完备的指 令 自测试算法,可以保证符合程序编写规范的指令组合的覆 盖率。 (2)软硬件仿真模块 根据仿 真结果 自动 比对要求 ,完成 了硬件 描述 的 testbench描述;并为指令集模拟器添加了处理器状态保存模 块(将每条指令的执行结果写入文件)。由于在测试过程中 RTL处理器核需要与 testbench所描述的主控制机进行交互, 因此在 testbench测试部分的设计中采用了大量的 “事件”触 发等待,并采用了参数化的设计,对所要处理的指令长度、 分组位宽、报文长度等都进行了参数化的设计,提高了测试 自动化程度 ,减少了人工的参与,提高了测试速度。 为了提高测试的速度 ,减少文件的输入等操作,软件设 计组将汇编器和处理器模拟器集成到一个软件中。工具栏中 包含了指令汇编、处理器模拟等功能,程序区显示的是汇编 或模拟执行的指令助记符,状态区显示的是当前执行时钟、 处理器内各个寄存器的值,信息区显示了汇编或模拟的过程 中的错误信息。 (3)仿真结果自动对比模块 在仿真阶段,将指令和数据文件输入到软件模拟器中, 经计算将结果写入输出文件中,同时由testbench将 2个文件 送到 RTL代码所描述的处理器核中,由 testbench读出运算 结果并写入对应 的输 出文件 。在测试结果输 出阶段 ,由 testbench的比对部分将模拟器的输出文件和testbench的输出 文件进行比对,并将比对结果写入对应的输出文件。基于文 件比对的验证系统无须测试工程师人工观察波形数据,有效 提高了验证的精度和速度。 实践表明,采用本文的软硬件联合验证方法对密码专用 指令集处理器的软硬件设计进行测试验证,大大提高了验证 覆盖率,缩短了开发周期,降低了测试工程师的劳动强度。 5 结束语 本文提出一种面向专用指令集处理器设计的软硬件联合 验证方法,将专用指令集处理器软、硬件系统的测试验证相 结合,并引入自动测试数据产生、结构自动比对等手段。通 过一款密码专用指令集处理器的设计验证证明,这是一种具 有较高实用价值的专用指令集处理器设计验证方法。 参考文献 ⋯ 王国华,孟晓风,边泽强.开放式测试仿真平台研究【JJ.计算机 工程,2007,34(23):226—227. [2】龚令侃,卢景芬.嵌入式微处理器片上调试系统的设计和验 证 .计算机工程,2008,34(增刊):56—58. [3]严迎建,徐劲松,陈 韬,等.基于指令集模拟器的处理器建模 与验证[J】.计算机工程,2008,35(5):248—250. [41 Zhu Jianwen,Gajski D D.An Ultra—fast Instruction Set Simulator[J]. IEEE Transactions on Very Large Scale Integration Systems,2002, 10r31:363—373. 编辑 张正兴 (上接第 240页) 程中调用函数确定下一有效块地址。从图中可见,对第 0块 的64页操作结束后,第 1列Flash直接从第0块跳到第3块 操作,已跳过第 1块和第 2块,而第 2列 Flash继续对 第 1块操作。 图 3 仿真波形 (2)实测结果 在测试过程中,将连续数以 35 MB/s的速度全容量反复 读写,测试时问约为 10天。当全部 Flash写满后,对每个坏 块前 1块的第63页和后一块的第0页进行读操作,发现数据 仍保持连续,没有发现误码现象。由此可见,利用函数方法 屏蔽坏块使系统可靠性得到大大提高。 5 结束语 Flash以其独有的特点近年来得到迅猛的发展 ,已经广泛 应用于各个领域,但始终受到坏块问题的制约,因此,对坏 块的处理愈显重要。本文方法成功解决了坏块问题,提高了 系统的可靠性。 参考文献 ⋯ 陈晓风.高密度 NAND F/ash存取性能及其宿主控制器接 口【J】. 计算机工程,2007,33(9):255—257. 【2]吴 鹏.高速实时Flash阵列数据采集系统研究与实现[D].南京 南京理工大学,2007. [3]韩 茜,罗 丰,吴顺君.高速大容量固态存储系统的设计[ 雷达科学与技术,2005,3(2):110—1 14. [4】罗 晓,刘 吴.一种基于 FAT文件系统的NANDFlash坏块处 理方法[J1.电子器件,2008,3l(2):7l6—719. [51 Samsung Electronics.K9WAG08U1A Advanced Flash Memo~ DataSheet[Z].2005. 编辑 张正兴

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