文件名称:IEEE 1149.1 标准
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文件格式:PDF
更新时间:2013-07-18 16:21:55
JTAG 1149.1
IEEE 1149.1 标准 边界扫描/JTAG,即 IEEE/ANSI 标准1149.1_1190,是一套设计规则,可以在芯片级、板级和系统级简化测试、器件编程和调试。该标准是联合测试行动小组(JTAG)(由北美和欧洲的几家公司组成)开发的。IEEE 1149.1标准最初是做为一种能够延长现有自动测试设备(ATE)寿命的片上测试基础结构而开发的。可以从Texas Instruments 边界扫描页面获得更多信息。利用该标准整合测试设计,允许完全控制和接入器件的边界引脚,而无需不易操作的或其它测试设备。每个符合JTAG要求的器件的输入/输出引脚上都包括一个边界单元(如图1所示)。正常情况下,它是透明的和停止运行的,允许信号正常通过。借助于测试模式下的器件,您可以采集输入信号,以备后期分析之用;输出信号可以影响板上的其它器件。