文件名称：各种测试的校准和比对性-ESD模型及有关测试
文件大小：9.52MB
文件格式：PPT
更新时间：2024-05-13 05:49:16
ESD
各种测试的校准和比对性 实际上使用TLP/HBM等的结果很多情况下是不一致的，即使一样的设备和测试方法有时候重复性也不是很好。ESDA：硬盘驱动IC、音频IC、数据通信接口IC、汽车电子IC，0.9、1.2、1.5工艺 一般： TLP的IT2×1500＝HBM MM×(9-10)＝HBM IEC－(1300-2000)＝HBM 栅氧ESD击穿电压＝1.2×栅氧静态击穿电压 *栅氧击穿场强×栅氧厚度＝静态击穿电压