文件名称：RTD电路的可测试性设计 (2004年)
文件大小：335KB
文件格式：PDF
更新时间：2024-05-16 18:25:47
工程技术 论文
针对共振隧穿二极管 (RTD) 电路由于具有超高集成度特点所带来的电路测试困难，在故障分析与故障模型的基础上提出了RTD电路的可测试性设计方案。该方案基于RTD电路开关级模型，针对电路基本的开路、短路故障合理增加控制端，利用控制端信号设计测试向量，使电路达到完全可测的目的。本方案可测试性程度较高，硬件花费较小，仅需附加一个金属氧化物半导体管 (MOS) 与两个控制端便可有效地测试出RTD电路的开路故障与短路故障，提高了电路的可控制性和可观察性，经PSPICE9.0软件验证达到了可测试性设计的目的。