文件名称：基于变步长采样的产品表面缺陷检测研究
文件大小：2.52MB
文件格式：PDF
更新时间：2024-05-30 23:38:10
缺陷检测; 变步长采样; 投影法; SIFT算法; 折半查找法
为了实现复杂产品结构质量的准确快速检测，对于产品表面有多种结构体及空间尺寸的待检区域，采用变步长采样机制快速获取待测产品的周向方位图像序列，实现在有限方位下利用不完全数据对多个待识别区域的快速检测。首先采用垂直投影法确定各待检区域的旋转步长，为保证标准库中信息的完整性选一最小步长作为合格品的采样步长。其次采用SIFT算法与折半查找法确定随机摆放的待检产品在标准库中的最优位置信息。最后通过相关度计算判别各区域有无缺陷。实验表明在保证检测准确率的前提下，采用变步长机制比固定步长检测平均可节省4.14s。