文件名称：基于程序频谱的缺陷定位方法
文件大小：963KB
文件格式：PDF
更新时间：2024-05-26 06:34:34
EP*方法 缺陷定位 程序频谱 测试用例 定位效果
软件测试是生产可靠软件的重要保障，对测试所发现缺陷的解决可以分为缺陷定位和缺陷修改两个步骤[1]，其中的缺陷定位是最耗时的.通常情况下，测试套件中成功执行的测试用例都占绝大多数，对基于程序频谱的缺陷定位方法，应该具备自主调节成功测试用例覆盖比重的能力，以提高方法的可用性.即，随着语句被成功测试用例覆盖的次数增多，该语句的覆盖次数对怀疑率的贡献度应逐渐减小，成功测试用例数的有效处理能提高缺陷定位方法的效果.基于此，本文提出EPStar（EP*）缺陷定位方法，该方法可以有效调整成功执行用例数的影响，以避免成功用例数量对缺陷定位效果的过度影响，从而提高缺陷定位的准确性，通过实验对比，说明了EP*方法比现有的几种缺陷定位方法具有更高的缺陷定位精度.