XPS谱在磁光介质可靠性分析中的应用* (2001年)

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文件名称：XPS谱在磁光介质可靠性分析中的应用* (2001年)

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更新时间：2024-05-28 14:17:16

自然科学 论文

通过对单层结构和多层结构的磁光记录介质TbFeCo在常温环境气氛条件和高温加速应力条件下的可靠性对比实验，以及对组成元素的XPS光电子能谱分析，证明了只有经过多层结构保护处理的磁光记录介质才具有高的稳定性。