文件名称:半导体器件失效分析
文件大小:23.58MB
文件格式:PDF
更新时间:2022-05-02 02:57:15
半导体器件 失效机理 可靠性
主要包括半导体器件失效分析,表面失效机理,体内失效机理,核辐射失效及抗核加固等内容。
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半导体器件 失效机理 可靠性
主要包括半导体器件失效分析,表面失效机理,体内失效机理,核辐射失效及抗核加固等内容。