文件名称：Semiconductor-manufacturing-process
文件大小：6.36MB
文件格式：ZIP
更新时间：2024-03-26 10:25:24
半导*造Craft.io FMT-项目 领域： 半导*造Craft.io Conetxt： 通常，通过监视从传感器和/或过程测量点收集的信号/变量，可以对复杂的现代半导*造过程进行持续监控。 但是，并非所有这些信号在特定的监视系统中都具有同等的价值。 被测信号包含有用信息，无关信息以及噪声的组合。 工程师通常会收到比实际所需数量更多的信号。 如果我们将每种类型的信号都视为特征，则可以应用特征选择来识别最相关的信号。 然后，Craft.io工程师可以使用这些信号来确定导致Craft.io下游产量波动的关键因素。 这将提高处理能力，减少学习时间并降低单位生产成本。 这些信号可用作预测产量类型的特征。 通过分析和试验特征的不同组合，可以确定影响产量类型的基本信号。 资料说明： 数据包含1567个示例，每个示例具有591个功能。 在这种情况下显示的数据集代表这些特征的选择，其中每个示例
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Semiconductor-manufacturing-process-main
----Future_predictions.xlsx(87KB)
----Semiconductor.ipynb(3.88MB)
----signal-data+Future.csv(5.11MB)
----Semiconductor.html(4.24MB)
----README.md(2KB)