存储器BIST的优化设计方案

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文件名称：存储器BIST的优化设计方案
文件大小：47KB
文件格式：PDF
更新时间：2021-07-07 04:34:38
存储器测试 在SOC中有许多嵌入式存储器内核需要测试，存储器BIST的优化设计是在峰值电流，IR降，组大小等约束下的区域，路由和测试时间等许多因素之间的权衡。