存储器BIST的优化设计方案

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文件名称：存储器BIST的优化设计方案

文件大小：47KB

文件格式：PDF

更新时间：2024-07-26 22:21:18

存储器测试

在SOC中有许多嵌入式存储器内核需要测试，存储器BIST的优化设计是在峰值电流，IR降，组大小等约束下的区域，路由和测试时间等许多因素之间的权衡。