文件名称：SiO2纳米粒子自组装膜的制备与表征 (2005年)
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更新时间：2024-06-07 21:02:06
工程技术 论文
通过静电自组装技术在玻璃基底上组装了具备纳米尺度形貌的A12O3和SiO2纳米粒子薄膜，采用液滴法测量其接触角，利用紫外-可见分光光度计测量其光学吸收特性，并利用原子力显微镜（atom force microscope， AFM）对两种纳米粒子薄膜及空白对比试片的表面结构进行了表征，结果表明，利用静电自组装原理在玻璃基片上组装的表面材料确实具备纳米形貌，且粗糙程度不同，具体为nano-A12O3>nano-SiO2>CTAB>control。这将为微生物细胞及动物细胞在纳米材料表面上的粘附考评实验做好准备