钙铝硅系微晶玻璃残余应力的初探 (2004年)

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文件名称：钙铝硅系微晶玻璃残余应力的初探 (2004年)

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更新时间：2024-05-29 07:45:41

自然科学 论文

介绍了X射线衍射法测试应力的原理，并用X射线衍射法测定了CaO-Al2O3-SiO2系微晶玻璃的残余应力，结合应力测试结果探讨了CaO-Al2O3-SiO2系微晶玻璃残余应力的形成原理。X射线衍射法测试残余应力结果表明，试样表面的残余应力为压应力，并且当试样表面经过机械磨抛后，压应力值变小。