论文研究-基于良率最大化的高效SOC测试程序开发 .pdf

时间:2022-09-11 02:35:44
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更新时间:2022-09-11 02:35:44

良率

基于良率最大化的高效SOC测试程序开发,何晖,,本文将讨论一种针对SOC芯片的低成本测试时间减少解决方案,该方案只是在原有的测试平台(V93K)基础上,改良测试方法和提升测试效��


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