文件名称：soc asic设计验证和测试方法学.rar
文件大小：8.25MB
文件格式：RAR
更新时间：2022-06-14 04:57:41
soc 设计验证 芯片测试 测试方法学
本书阐述了设计系统芯片（SOC）所需的新的设计、验证和测试方法学，其基本原理同样适合于超大规模专用集成电路芯片（ASIC）的设计。本书适合IC设计领域的科技人员，高校相关专业大学生和研究生。本书的具体内容有：集成电路发展史及SOC设计所面临的挑战；SOC设计、SOC模型。
【文件预览】：
soc asic设计验证和测试方法学.pdf