O2流量对O2 /C4 F8等离子体刻蚀SiCOH低k薄膜的影响 (2011年)

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文件名称：O2流量对O2 /C4 F8等离子体刻蚀SiCOH低k薄膜的影响 (2011年)
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更新时间：2021-05-29 07:29:16
自然科学 论文 研究了O2 /C4F8等离子体刻蚀SiCOH低k薄膜时O2流量对刻蚀率、表面结构的影响,及其放电等离子体特性的关联。发现O2流量的增大可以极大地提高多孔SiCOH薄膜的刻蚀速率,降低表面的粗糙度,减少SiCOH薄膜表面的C: F沉积。等离子体特性的光谱分析表明,O2的添加,增强了C与O之间的反应,从而在Si、F反应刻蚀Si的同时,C、O之间的反应使C消耗,实现Si、C的同步刻蚀,从而获得SiCOH低k薄膜的高刻蚀率和低粗糙度表面。