文件名称：流延成型制备8YSZ 电解质薄片及其性能研究 (2005年)
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更新时间：2024-06-05 18:19:29
自然科学 论文
探索了以YSZ 纳米粉体为原料,采用流延成型的方法制备YSZ 电解质薄片的工艺过程,研究了YSZ 纳米粉体及流延后坯体的性能,以及通过实验获得的瓷体性能.粉体粒度分布窄,在0.1~0.3 μm 之间,中位径为0.157 μm. 坯体在968.9℃开始有明显收缩，在1279.9℃收缩最快，而在1400℃ 后,收缩值基本稳定于20%. 坯体的致密度良好,相对密度为64.1%. 通过烧结得到的瓷体的相对密度可达97.8%, 晶粒细密均匀,大小为1~4μ m, 晶界明显.YSZ 薄片随温度的升高表现出良好的电性能