DMCPS/CHF3制备的F-SiCOH低k薄膜结构与沉积速率研究 (2007年)

时间:2021-05-19 21:55:58
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文件名称:DMCPS/CHF3制备的F-SiCOH低k薄膜结构与沉积速率研究 (2007年)
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更新时间:2021-05-19 21:55:58
自然科学 论文 以十甲基环五硅氧烷(DMCPS)和三氟甲烷(CHF3)作为反应气体,采用电子回旋共振等离子体化学气相沉积(EcR.CVD)7-,制备了氟掺杂的SiCOH低介电常数薄膜。研究发现:随着CHF3/DMCPS流量比的增大薄膜的沉积速率呈“N”型变化。根据薄膜结构和成分的傅立叶变换红外光谱仪(FⅡR)、X射线光电子能谱(XPS)以及放电等离子体中基团分步的光强度标定的发射光谱(0Es)分析可知:薄膜沉积速率的变化是由于CHF3进气量的增加导致薄膜生长从以沉积F-SiCOH薄膜为主过渡到以沉积氟化非晶碳(a-C:F

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